专业知识分享
把脉行业热点,汲取前沿思维

贴片电容寿命检测方法

  • 编辑: 深圳容乐电子官网
  • 发表时间:2018-08-09

  贴片电容寿命检测方法,贴片电容的使用并非无限,使用过久后还是会有消耗,贴片电容的使用寿命是有限的,贴片电容的寿命有两层含义,其一是老化寿命,其二是使用寿命。下面风华电容代理商为大家提供技术知识讲解。


贴片电容

  贴片电容的老化寿命一般没有多大实际意义。一颗电容即便生产出来很多年,也一样可以正常使用。这个和晶振不太一样。当然如果仓储环境达不足,出厂时间久的贴片电容端电极有可能老化,导致焊接性能下降。因此原则应该购买出厂一年以内的产品。


  风华贴片电容使用寿命测试方法:


  一、测试方法

  1、低压贴片电容(≤100V)

  电压:1.5 倍额定工作电压。

  时间:1000 小时。

  温度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)。

  充电电流:不应超过50mA。

  放置条件:室温。

  放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48 小时(Ⅱ类),。


  2、中高压贴片电容:

  100V≤额定电压<500V:2 倍工作电压。

  500V≤额定电压≤1000V:1.5 倍工作电压。

  额定电压>1000V:1.2 倍工作电压。

  时间:1000 小时。

  充电电流:不应超过50mA。

  温度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)。

  放置条件:室温。

  放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48小时(Ⅱ类)。


  二、测试标准:

  ΔC/C

  Ⅰ类:≤±2%或±1pF 取两者之中较大者。

  Ⅱ类:B,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%。


  ΔC/C:

  Ⅰ类:≤±2%或±1pF取两者之中较大者。

  Ⅱ类:B,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%。


  DF:

  ≤2 倍初始标准。


  IR

  Ⅰ类:Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取两者之中较小者。

  Ⅱ类:Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取两者之中较小者。


  外观

  无损伤


  贴片电容寿命检测方法内容就到这里,以上是风华高科的贴片电容测试方法,想要了解其它品牌的测试方法可以对我司提问。